Atomic force microscope (AFM)

Fischer NX10

ใช้สำหรับตรวจวิเคราะห์พื้นผิวและรูปพรรณสัณฐานซึ่งเป็นสมบัติทางกายภาพของวัตถุความละเอียดระดับนาโนเมตรโดยใช้กล้องและหัวอ่านขนาดเล็กวัดแรงผลักและแรงดูดที่เกิดขึ้นระหว่างหัวเข็มกับพื้นผิวของวัตถุ เพื่อมาสร้างเป็นภาพของพื้นผิวของวัตถุ เครื่องมือนี้สามารถวิเคราะห์วัสดุตัวอย่างได้หลากหลายโหมด เช่น non contact mode/ contact mode / tapping mode / mode อื่นๆ ตัวอย่างเป็นของแข็งผิวเรียบหรือฟิล์มบาง ต้องเตรียมตัวอย่างมาเองโดยขนาดของชิ้นงานที่ต้องการทดสอบต้องมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางไม่เกิน 20 mm (เหรียญ 1 บาท)

Static Optical Contact Angle Meter (CAM)

KINO SL150E

ใช้วิเคราะห์มุมสัมผัสของของเหลว (Contact Angle), แรงตึงผิวของของเหลว(Surface Tension), พลังงานผิว (Surface Energy) 

การเตรียมตัวอย่างของแข็งขนาด กว้าง × ยาว × สูง ไม่เกิน 12 × 12 × 5 cm หรือ ของเหลวปริมาตรไม่น้อยกว่า 10 µl